エレクトロルミネッセンスイメージング

エレクトロルミネッセンス(EL)イメージングは、太陽電池で刺激された電荷導体の放射間帯における再結合を利用したものである。エレクトロルミネッセンス調査のために、モジュールは発光ダイオードとして操作され、再結合作用による放出される放射線が敏感なSi-CCDsカメラで検出できる。エレクトロルミネッセンスイメージのために、カメラが波長850 nm以上の放出光子を写真に撮っている間に、太陽電池がそれらの金属接点を介して、定義された外部励磁電流に伴って供給される。ELが一種の低光源であるため、検査中の背景騒音を防ぐように、暗い環境が必要とされる。損傷されたアリアに暗みが現したり、または正常なエリアほど光らなかったりする。エレクトロルミネッセンス(EL)イメージングは結晶シリコン太陽電池にある欠陥の多くを検出するために使用することができ、さらに、EL技術は肉眼で知覚できない、IR-イメージよりサイズが小さい詳細を解決できるような高解像度を提供する。たとえば:

  • 微小亀裂
  • 悪いフィンガー接点
  • 電気シャント
  • 壊れた接点
  • 壊れたセル内の断片
  • 電気的に分離したセル.エリア
  • 粒界
  • セル材料の結晶化の障害

この写真は多結晶シリコーンモジュールの中の欠陥を示している。たとえば:

  • 10 セル以上の長い亀裂 (1).
  • 3 セル以上のより小さい亀裂(2).
  • 非アクティブなセルの部分(3).
  • セルの中の不純物(4).
  • 微小な亀裂によってバスバーから分離したセルのパーツ(5).
  • 焼結炉の格子のマーク(6).